全自動芯片高低溫檢測設備

簡要描述：全自動芯片高低溫檢測設備主要為電子零件、工業(yè)材料、成品研發(fā)、生產(chǎn)、檢驗各環(huán)節(jié)的試驗提供恒定濕熱，復雜高低溫交變等試驗環(huán)境和試驗條件。適用于：電子電器、通訊、化工、五金、橡膠、玩具、科研、醫(yī)療、航天、建材等各行業(yè)。

產(chǎn)品型號：AP-GD-150A4
廠商性質：生產(chǎn)廠家
更新時間：2024-05-22
訪問量：297

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是什么原因導致高低溫實驗箱的均勻度過大

詳細介紹

品牌	愛佩科技	分類	高低溫試驗箱
內箱材質	304不銹鋼	產(chǎn)地	國產(chǎn)
尺寸	我司有多種尺寸可供選擇	產(chǎn)品品牌	愛佩科技

全自動芯片高低溫檢測設備主要為工業(yè)材料、電子零部件、電器成品或者半成品在研發(fā)、生產(chǎn)和檢驗各環(huán)節(jié)的試驗提供恒定溫熱、復雜高低溫交變等試驗環(huán)境和試驗條件的機器.適用于電工、電子、光電、電器、化工、通訊、五金、橡膠、玩具等各種工業(yè)行業(yè)。

全自動芯片高低溫檢測設備性能指標：

可滿足GB2423.2-2008高溫試驗方法、GB2423.1-2008低溫試驗方法、GB2423-2008試驗D6交變濕熱試驗方法、GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術條件》、GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術條件》、GB/T 10586-2006《濕熱試驗箱技術條件》等標準。

控制方式與特色：平衡調溫調濕控制系統(tǒng)(BTHC)，以P.I.D.方式控制SSR，使系統(tǒng)之加熱加濕量等于熱濕損耗量，故能長期穩(wěn)定的使用。

試驗箱內腔窩容積：80L

試驗箱內腔窩尺寸：40*50*40cm（寬*高*深）

溫度范圍：0~150℃；-20~150℃；-40~150℃（此三個溫度段建議顧客選擇其中一段）

溫度波動度：±0.5℃

溫度均勻度: ±2℃

升溫速率:＞3℃/min 降溫速率: ＞1℃/min

安裝場地：

1.要求擺放試驗箱的地面平整，通風良好，室溫不能超過28度以下，確保設備制冷系統(tǒng)正常）

2.要求試驗箱周圍無強烈振動、因為長久的強烈振動會導致設備部分零配件松動或者移位，影響設備的壽命與增加故障率。

3.要求試驗箱周圍無強電磁場影響，否則因此造成或者導致的一切后果本公司一律不負責任。

4.試驗箱周圍強烈要求無腐蝕性物質、易燃、易爆和粉塵出入的情況出現(xiàn)。免得設備因為意外報廢不在保修范圍內。

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