當前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 步入式環(huán)境實驗室 > 老化房 > AP-LF-16FB1電子產(chǎn)品高溫老化房 環(huán)境試驗箱
簡要描述:電子產(chǎn)品高溫老化房是針對高性能電子產(chǎn)品(如:計算機整機,顯示器,終端機,車用電子產(chǎn)品,電源供應(yīng)器,主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等)仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備,是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程。
產(chǎn)品分類
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品牌 | 愛佩科技 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
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尺寸 | 根據(jù)客戶需求設(shè)計 |
電子產(chǎn)品高溫老化房是針對高性能電子產(chǎn)品(如:計算機整機,顯示器,終端機,車用電子產(chǎn)品,電源供應(yīng)器,主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等)仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備,是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程,該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、計算機、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風(fēng)力恒溫系統(tǒng)、時間控制系統(tǒng)、測試負載等,通過此測試程序可檢杳出不良品或不良件,是客戶迅速找出問題、解決問題提供有效手段。
設(shè)備特點
●提供大型零件、半成品、成品的高溫老化測試。
●完整的安全保護裝置。
● 超溫排風(fēng)機由變頻器控制其運轉(zhuǎn),當溫度下降至設(shè)定值下*時風(fēng)機停止排風(fēng),排風(fēng)系統(tǒng)同時關(guān)閉。循環(huán)系統(tǒng)在老化產(chǎn)品的過程中始終保持循環(huán)狀態(tài),以保證溫度均衡。整套系統(tǒng)動作具有性能穩(wěn)定,控制、溫度波動小,均衡度高、噪音小等特點。
電子產(chǎn)品高溫老化房技術(shù)參數(shù):
設(shè)備尺寸:內(nèi)箱尺寸:W(3700)mm × H( 1900)mm × D( 2300)mm;
外型尺寸(約):W(3900)mm × H(2200)mm × D( 2850)mm,不含外置儀表架;
溫度范圍:RT~60 ℃ (測試產(chǎn)品發(fā)熱量300W ,表面溫度55℃)
(單/雙)開門尺寸:雙開門:W(1050+1050)mm×H1900mm;( 可依客戶要求選擇或定制)
滿足標準:
GB/T 5170.2-2008 溫度試驗設(shè)備
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗方法Bb
GJB150.3-1986 高溫試驗
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法
GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗
溫度波動:溫度:≤±0.5℃
溫度均勻度:溫度:≤±3.0℃
溫度升溫時間:約40min
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