電子產(chǎn)品高溫老化房 環(huán)境試驗箱

電子產(chǎn)品高溫老化房是針對高性能電子產(chǎn)品（如：計算機整機，顯示器，終端機，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、計算機、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風(fēng)力恒溫系統(tǒng)、時間控制系統(tǒng)、測試負載等，通過此測試程序可檢杳出不良品或不良件，是客戶迅速找出問題、解決問題提供有效手段。

設(shè)備特點

●提供大型零件、半成品、成品的高溫老化測試。

●完整的安全保護裝置。

● 超溫排風(fēng)機由變頻器控制其運轉(zhuǎn)，當溫度下降至設(shè)定值下*時風(fēng)機停止排風(fēng)，排風(fēng)系統(tǒng)同時關(guān)閉。循環(huán)系統(tǒng)在老化產(chǎn)品的過程中始終保持循環(huán)狀態(tài)，以保證溫度均衡。整套系統(tǒng)動作具有性能穩(wěn)定，控制、溫度波動小，均衡度高、噪音小等特點。

電子產(chǎn)品高溫老化房技術(shù)參數(shù)：

設(shè)備尺寸：內(nèi)箱尺寸：W(3700)mm × H( 1900)mm × D( 2300)mm；

外型尺寸（約）：W(3900)mm × H(2200)mm × D( 2850)mm，不含外置儀表架；

溫度范圍：RT～60 ℃ (測試產(chǎn)品發(fā)熱量300W ,表面溫度55℃)

（單/雙)開門尺寸：雙開門：W（1050+1050）mm×H1900mm；（ 可依客戶要求選擇或定制）

滿足標準：

GB/T 5170.2-2008 溫度試驗設(shè)備

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗方法Bb

GJB150.3-1986   高溫試驗

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法

GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗

溫度波動：溫度：≤±0.5℃

溫度均勻度：溫度：≤±3.0℃

溫度升溫時間：約40min