平板顯示高低溫老化試驗(yàn)設(shè)備 環(huán)境試驗(yàn)箱

平板顯示高低溫老化試驗(yàn)設(shè)備是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品（如：計(jì)算機(jī)整機(jī)，顯示器，終端機(jī)，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、低溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、計(jì)算機(jī)、通訊等領(lǐng)域。

特點(diǎn)：

●提供大型零件、半成品、成品的溫濕度換將測(cè)試。

●利用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，使室內(nèi)溫濕分布均勻。

●假如異常狀況發(fā)生時(shí)，控制熒幕上即自動(dòng)顯示故障狀態(tài)，切斷電源開關(guān)，并提出故障排除方法。

平板顯示高低溫老化試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)參數(shù)：

1.溫度范圍：RT～85 ℃（更高或更低溫度均可致電定制）

2.滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 5170.2-2008 溫度試驗(yàn)設(shè)備；GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法Bb；GJB150.3-1986   高溫試驗(yàn)；GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法；GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn)。

3.工作噪音：A聲級(jí)≤75dB(A) (在環(huán)溫25℃，回聲少的隔音室內(nèi)測(cè)得；采用A計(jì)權(quán)，測(cè)試8個(gè)點(diǎn)的平均值；各測(cè)試點(diǎn)水平離噪音源1米、高度離地面1米)

4. 溫度波動(dòng)：溫度：≤±0.5℃

5. 溫度均勻度：溫度：≤±5℃

6. 溫度升溫時(shí)間：約3 ℃/min

7.試驗(yàn)室保溫結(jié)構(gòu)：內(nèi)外壁材料：耐高溫庫(kù)板具有輕質(zhì)、高強(qiáng)度、保溫隔熱、美觀耐用等優(yōu)點(diǎn)

8.空氣調(diào)節(jié)通道：風(fēng)機(jī)、加熱器、蒸發(fā)器、風(fēng)門、溫度傳感器

9.試驗(yàn)室體標(biāo)準(zhǔn)配置：8.3.1 引線孔（可選）：1個(gè)可多個(gè)；φ50mm或φ100mm位于箱體側(cè)面