高低溫沖擊試驗箱半導體

簡要描述：高低溫沖擊試驗箱半導體滿足標準：GJB360.7-87溫度沖擊試驗；GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第5部分：溫度沖擊試驗；

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詳細介紹

高低溫沖擊試驗箱半導體用來測試汽車配件、LED、金屬、塑料、橡膠、電子等材料，在瞬間下經高溫和低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度，藉以在短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化和物理傷害，可作為其產品改進的依據(jù)和參考。

高低溫沖擊試驗箱半導體技術參數(shù)：

溫度范圍：-65～150℃

溫度波動度：≤±0.5℃

溫度偏差：≤±2℃

轉換時間：≤10S

溫度回復時間：≤5min

外殼：冷軋鋼板表面噴塑或不銹鋼可選

內箱樣品架層架：不銹鋼板分2層

隔熱材料：聚氨酯發(fā)泡+超細玻璃棉

制冷方式：復疊式雙級壓縮機制冷方式（水冷）

制冷機：或壓縮機

加熱器：鎳鉻合金加熱絲式加熱器

鼓風機：長軸離心風機

溫度傳感：鉑電阻Pt100

控制器/記錄裝置：PLC控制器、彩色液晶顯示觸摸屏/微型打印機

電腦接口：RS485接口、RS232轉換線、上位機操作軟件（選配）

內箱尺寸(mm)：D×W ×H：350×360×400、400×500×400、500×600×500

標準配置：合格證、說明書、試驗報告、及驗收報告各1份、隔層架2層

滿足標準：GJB360.7-87溫度沖擊試驗；GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第5部分：溫度沖擊試驗；

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